上海同耀实验室2017年测试技术研讨会(深圳站)邀请函

   一年一度的“上海同耀实验室测试技术研讨会(深圳站)”即将拉开帷幕。研讨会将为广大科研人员和认证负责人提供了解上海同耀实验室最新测试服务能力的机会,进一步加深科研人员及认证负责人对产品测试方法与流程的理解。

   此次研讨会(深圳站)将针对客户的不同测试需求,更合理安排本地研讨会的主要议题,以及丰富的现场讨论和交流。同时针对智能终端CTA 入网;运营商入库及智能终端OTA;电子产品CE/FCC/海关联盟等多国认证;技术联盟Bluetooth/WiFi/LORA/USB-IF;解决物联网安全的智能卡个人化测试服务;移动通信LTE/NB-IOT/SAR/eMTC OTA/RF;技术联盟NFC/Mirrorlink;网通产品WiFi/BT/CE/FCC 等诸多领域的测试需求,安排了相关最新技术和标准的解析,从而使从事产品研发和认证的工程技术人员进一步了解和熟悉国际国内最新的测试技术和服务。

   “上海同耀实验室测试技术研讨会”已经成功在全国多地举办过多次,上海同耀实验室组织的这一系列会议,也在行业内部产生了积极的影响,受到了客户的普遍关注和广泛好评。本次研讨会再次诚邀广大客户莅临深圳参会。

登记注册的方法

• (推荐)邮件注册,请将报名回执表邮件发送给与贵司对应的同耀市场工程师,或者将报名回执发送到如下邮箱:shangchunhong@ta-shanghai.com;

• 请致电:13682549896 市场部尚春洪先生,并请说明参加上海同耀实验室2017 年测试技术研讨会(深圳站);

• 此次研讨会免费,因人数有限,请您务必登记入席。参会回执另附(报名截止日期2017 年9 月21 日)。

我们期待您的光临!